光電元件模組多功能測(cè)試系統(tǒng)

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產(chǎn)品名稱(chēng): 光電元件模組多功能測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào): 58625

產(chǎn)品展商: Chroma

產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

多合一整合型測(cè)試機(jī) 可彈性安排多種測(cè)試站具精準(zhǔn)之溫度平臺(tái)控制能力溫控范圍可達(dá)-20~85℃ 光學(xué)模組可支援大角度之發(fā)光角量測(cè) 實(shí)現(xiàn)奈秒級(jí)高速測(cè)試 (選配)

光電元件模組多功能測(cè)試系統(tǒng) 的詳細(xì)介紹

產(chǎn)品特色

多合一整合型測(cè)試機(jī)
可彈性安排多種測(cè)試站
具精準(zhǔn)之溫度平臺(tái)控制能力
溫控范圍可達(dá)-20~85℃
光學(xué)模組可支援大角度之發(fā)光角量測(cè)
實(shí)現(xiàn)奈秒級(jí)高速測(cè)試 (選配)

應(yīng)用范圍

3D感測(cè)發(fā)光模組與晶片特性測(cè)試
車(chē)用Lidar發(fā)光模組與晶片特性測(cè)試
各種雷射(Laser)產(chǎn)品之特性測(cè)試

Chroma 58625為3D感測(cè)發(fā)光模組之特性測(cè)試設(shè)備，可結(jié)合各種不同光學(xué)模組于同一自動(dòng)化平臺(tái)，精準(zhǔn)控制溫度并完成所有測(cè)試。依不同光學(xué)模組之安排，其測(cè)試內(nèi)容涵蓋電性、光能量、波長(zhǎng)、近場(chǎng)光學(xué)、遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)等各種光電特性參數(shù)，非常適合3D 感測(cè)發(fā)光元件之產(chǎn)品開(kāi)發(fā)與產(chǎn)品品質(zhì)出入料檢驗(yàn)。

光能量與波長(zhǎng)量測(cè)(LIV+λ)

搭配高性能積分球與高解析度光譜儀可應(yīng)用于量測(cè)3D感測(cè)發(fā)光模組之光能量與波長(zhǎng)特性，Chroma 58625并提供彈性化設(shè)計(jì)，使用者可依不同之測(cè)試需求自訂測(cè)試情境，透過(guò)光能量(Light Power)、電流(Current)、電壓(Voltage) 的掃描測(cè)試，可推算出各種光電參數(shù)如閥值電流(Ith)、光電轉(zhuǎn)換效率(PCE)、斜率效率(SE)。

遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)量測(cè) (Far Field Test)

于3D感測(cè)發(fā)光模組的遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)量測(cè)應(yīng)用上，Chroma 58625以屏幕投影式技術(shù)，可量測(cè)高達(dá)120度發(fā)散角之3D感測(cè)發(fā)光模組，利用Chroma開(kāi)發(fā)之獨(dú)特演算法，分析遠(yuǎn)場(chǎng)光型，獲得發(fā)散角、均勻性(beam uniformity)與IEC 60825人眼**規(guī)范Class 1的自動(dòng)判斷。另外，Chroma 58625亦可搭配beam profiler，提供更高解析度之測(cè)試需求。

近場(chǎng)光學(xué)量測(cè) (Near Field Test)

近場(chǎng)光學(xué)量測(cè)主要應(yīng)用于3D感測(cè)模組中發(fā)光晶片(Laser Diodes)之近場(chǎng)光學(xué)量測(cè)，搭配高性能之顯微鏡模組與自動(dòng)尋光平臺(tái)，可量測(cè)雷射(Laser Diodes)之光腰寬(Beam waist W0)、發(fā)散角(divergence angle)、射束品質(zhì)(beam propagation ratio M2)；另外，應(yīng)用于多光源雷射(Laser array)時(shí)，透過(guò)Chroma獨(dú)特的影像分析技術(shù)可獲得雷射光強(qiáng)度均勻性(uniformity)之資訊。