薄膜厚度自動光學(xué)量測系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: 薄膜厚度自動光學(xué)量測系統(tǒng)
產(chǎn)品型號: 7505-K007
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
適用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度檢測
使用3D光學(xué)探頭，進(jìn)行非破壞性、快速表面厚度量測與分析
使用陶瓷吸附平臺，可將待測物吸附于平臺上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損
3D厚度量測范圍大
可量測透明材質(zhì)
高靜態(tài)量測重復(fù)精度
高動態(tài)量測重復(fù)精度
具備腳本功能可進(jìn)行自動量測
薄膜厚度自動光學(xué)量測系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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適用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度檢測
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使用3D光學(xué)探頭，進(jìn)行非破壞性、快速表面厚度量測與分析
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使用陶瓷吸附平臺，可將待測物吸附于平臺上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損
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3D厚度量測范圍大
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可量測透明材質(zhì)
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高靜態(tài)量測重復(fù)精度
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高動態(tài)量測重復(fù)精度
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具備腳本功能可進(jìn)行自動量測
Chroma 7505-K007薄膜厚度自動光學(xué)檢測系統(tǒng)主要整合3D光學(xué)探頭，進(jìn)行非破壞性、快速表面厚度量測與分析，適用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度檢測。同時配備陶瓷吸附平臺，可將待測物吸附于平臺上使表面平整，亦不對待測物造成皺褶或破損，3D厚度量測范圍大、設(shè)備靜態(tài)重復(fù)精度高與設(shè)備動態(tài)重復(fù)精度高，具備Recipe功能可進(jìn)行自動量測，此外系統(tǒng)亦提供檢測數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)的存盤功能，供后續(xù)操作人員處理分析使用。
