2917 LCM ATS (LCM液晶模塊自動測試系統(tǒng)) 提供下列測試功能：

LVDS訊號輸出 
可支持Signal,Dual,Quad , 8 Link 輸出測試，其點頻率*高可達1.08GHz，測試畫面分辨率可支持至1920x1080 @240Hz，符合現(xiàn)今Full HD高倍頻傳輸技術(shù)測試規(guī)格。

時序參數(shù)、圖像及測試程序編輯 
產(chǎn)品本身支持標準JEIDA/VESA Timing Format，使用者可直接選擇或依其需求建立各式不同的時序參數(shù)。

另藉由Icon之任意組合，可建立各種測試所需之幾何圖像，亦可輸入擴展名為BMP/JPG之自然畫像，同時動畫功能可支持MPEG/VAI/GIF格式播放，亦可提供LCD之反映時間(Response time)測試，所有圖像皆可依LCM之分辨率不同自動縮放，搭配編輯圖像實時預覽之功能，提升圖像編輯之便利。

對于LCM測試時所需的LVDS信號外，可依據(jù)液晶模塊電氣規(guī)格，提供電源啟始、結(jié)束時間 (Turn On / Turn Off )、掃描時序(Timing)、圖像 (Pattern)、供應電壓/電流上下限保護設定(OCP / OVP / UCP / UVP)、實時上升/下降電壓改變 (Ramp Up / Ramp Down)等參數(shù)設定，提供LCM *完整且***之測試。

多組高精度直流電源供應 
本系統(tǒng)提供多樣模塊化之外接式電源應用于各種面板尺寸，可支持4組直接電源輸出，藉由USB 標準接口以提供LCM控制芯片、驅(qū)動芯片及背光模塊所需之電源，每一輸出皆包含電壓、電流之實際讀值，其獨特設計可使量測點移至負載端，避免傳輸壓降，確保量測精度達mV等級，以完整解析LCM之工作狀態(tài)，同時每個輸出頻道能仿真電源開/關(guān)之時序關(guān)系、Ramp-up/down之波型輸出及過電壓及電流保護之功能，當狀態(tài)逾越設定時，除產(chǎn)生保護動作外，并利用燈號及聲響提醒操作者處置。

簡易操作環(huán)境與網(wǎng)管控制(選購) 
在生產(chǎn)測試的部分，Chroma 2917提供管理者預先設定作業(yè)員權(quán)限，統(tǒng)一系統(tǒng)管理模式，減少人為錯誤操作。其簡易友善圖形接口，易于上手，于測試時運用鼠標及Keypad控制十字坐標缺點定位檢查及紀錄，包括LCM之缺陷種類及級數(shù)分類等信息建立并可產(chǎn)出各種測試報表分析，因此不論于研發(fā)設計或產(chǎn)線應用，皆可以*快速之方式完成測試，大幅縮短測試時間。

為滿足產(chǎn)線完整測試應用及管理，透過網(wǎng)絡接口進行測試程序維護與管理、硬件組態(tài)配置、數(shù)據(jù)上傳/下載、統(tǒng)計、EDID寫入之網(wǎng)管聯(lián)機功能，使系統(tǒng)管理者在**時間掌握廠區(qū)生產(chǎn)狀態(tài)進行遠程監(jiān)控，并可作為產(chǎn)能、效率、良率之檢討。本系統(tǒng)亦提供其他外部控制接口，如：I2C/ SMBUS/PWM等，做擴充性功能應用，增加系統(tǒng)架構(gòu)彈性。